4001-123-022 
掃描電鏡
在發(fā)展中求生存，不斷完善，以良好信譽(yù)和科學(xué)的管理促進(jìn)企業(yè)迅速發(fā)展
ABOUT US
關(guān)于我們
MORE+微儀光電（天津）有限公司是一家集顯微鏡、顯微鏡自動(dòng)化、顯微專用攝像系統(tǒng)及圖像分析系統(tǒng)的研發(fā)、生產(chǎn)及銷售為一體的多元化高科技企業(yè)。公司擁有一支專業(yè)從事顯微儀器應(yīng)用技術(shù)研究，新產(chǎn)品新技術(shù)開發(fā)的工程技術(shù)團(tuán)隊(duì)。 在傳統(tǒng)光學(xué)顯微成像技術(shù)上融入了攝像計(jì)算機(jī)分析系統(tǒng)及機(jī)械自動(dòng)化系統(tǒng)，不斷開發(fā)出能滿足科研教學(xué)、機(jī)械制造、電子材料、紡織纖維、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油化工、航空航天、計(jì)量科學(xué)、軍事公安、農(nóng)林牧漁等幾乎所有應(yīng)用領(lǐng)域進(jìn)行研究分析的新產(chǎn)品和新技術(shù)。 致力于向客戶提供原位透射電鏡解決方案、臺(tái)式掃描電鏡,掃描電鏡,臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī),sem掃描電鏡,原位掃···
-
安全可靠
-
放心品質(zhì)
-
操作簡單
-
省時(shí)節(jié)能
客戶案例
專業(yè)從事電子顯微鏡及電鏡附件的廠家，堅(jiān)持客戶至上，誠信服務(wù)，攜手共贏
新聞中心
NEWS
2025-07-30
SEM掃描電鏡各工作模式如何選擇
掃描電鏡作為材料表征的核心工具，其工作模式的選擇直接影響成像質(zhì)量與數(shù)據(jù)可靠性。本文從電子束-樣品相互作用機(jī)制出發(fā)，系統(tǒng)解析二次電子成像（SEI）、背散射電子成像（BSE）及擴(kuò)展模式（如EBSD、EDS）的技術(shù)原理與應(yīng)用場(chǎng)景，為科研與工業(yè)檢測(cè)提供實(shí)用決策框架。...
MORE2025-07-29
SEM掃描電鏡的操作技巧分享
掃描電鏡是材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)和生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域不可或缺的表征工具。本文結(jié)合實(shí)際操作經(jīng)驗(yàn)，分享從樣品制備到數(shù)據(jù)優(yōu)化的全流程技巧，助力研究者提升成像質(zhì)量與工作效率。...
MORE2025-07-28
SEM掃描電鏡對(duì)于樣品的要求多不多
掃描電鏡作為材料表征的重要工具，通過電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的信號(hào)（如二次電子、背散射電子等）實(shí)現(xiàn)高分辨率成像，但其對(duì)樣品的要求涉及多個(gè)方面，以確保成像質(zhì)量與數(shù)據(jù)可靠性。以下是SEM掃描電鏡對(duì)樣品的主要要求及具體說明：...
MORE2025-07-25
SEM掃描電鏡材料樣品如何制備
掃描電鏡通過電子束與樣品表面的相互作用，可實(shí)現(xiàn)納米級(jí)形貌與成分分析，是材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的重要表征工具。然而，SEM掃描電鏡對(duì)樣品導(dǎo)電性、干燥度及穩(wěn)定性要求較高，需通過規(guī)范的制備流程確保成像質(zhì)量。本文將系統(tǒng)介紹不同類型材料樣品的制備方法，涵蓋導(dǎo)電樣品、非導(dǎo)電樣品、粉末樣品及生物樣品的處理細(xì)節(jié)。...
MORE2025-07-24
SEM掃描電鏡觀察的樣品為什么要噴金呢
掃描電鏡作為材料表征的核心工具，能夠以納米級(jí)分辨率揭示樣品表面的微觀形貌。然而，許多初次接觸SEM掃描電鏡的研究者會(huì)發(fā)現(xiàn)：在觀察非導(dǎo)電或低導(dǎo)電性樣品時(shí)，成像質(zhì)量往往不理想，甚至出現(xiàn)圖像扭曲、閃爍或分辨率下降等問題。這一現(xiàn)象的根源在于電荷積累效應(yīng)，而噴金（或噴涂導(dǎo)電層）正是解決這一問題的關(guān)鍵技術(shù)手段。本文將系統(tǒng)解析掃描電鏡成像中噴金的必要性，并探討其科學(xué)原理與操作要點(diǎn)。...
MORE2025-07-23
為什么SEM掃描電鏡不能測(cè)試具有磁性的粉末樣品，而對(duì)塊狀樣品沒有這樣的要求？
一、磁場(chǎng)干擾：電子束軌跡的隱形偏轉(zhuǎn) 磁性粉末的磁場(chǎng)效應(yīng) 磁性粉末（如釹鐵硼、鐵氧體）會(huì)產(chǎn)生局部磁場(chǎng)，與掃描電鏡物鏡的電磁場(chǎng)發(fā)生耦合，導(dǎo)致電子束軌跡偏移。以釹鐵硼永磁體為例，其表面磁場(chǎng)強(qiáng)度可達(dá)數(shù)百mT，足以使電子束偏轉(zhuǎn)角度超過5°，引發(fā)圖像畸變、合軸偏移，甚至造成極靴吸附風(fēng)險(xiǎn)。...
MORE2025-07-22
SEM掃描電鏡在礦物學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用廣度與影響因素深度解析
掃描電鏡憑借其納米級(jí)分辨率、三維成像能力及元素分析功能，已成為礦物學(xué)研究的核心工具。從礦物形貌表征到成分解析，從古環(huán)境重建到礦產(chǎn)資源開發(fā)，SEM掃描電鏡的應(yīng)用深度與廣度持續(xù)拓展。本文將系統(tǒng)探討掃描電鏡在礦物學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用現(xiàn)狀，并解析影響其應(yīng)用效果的關(guān)鍵因素。...
MORE2025-07-21
SEM掃描電鏡在能源領(lǐng)域中的應(yīng)用介紹
掃描電鏡作為材料表征的核心工具，在能源領(lǐng)域的研究與開發(fā)中發(fā)揮著不可替代的作用。其高分辨率成像與多維度分析能力，為電池材料、太陽能轉(zhuǎn)換、燃料電池及核能技術(shù)等提供了關(guān)鍵的微觀洞察。一、鋰離子電池：從材料設(shè)計(jì)到失效分析的全流程支撐 1. 電極材料形貌優(yōu)化...
MORE2025-07-18
SEM掃描電鏡操作失誤后的補(bǔ)救辦法
在使用掃描電鏡時(shí)，由于操作不當(dāng)或其他因素，可能會(huì)出現(xiàn)各種操作失誤，這些失誤可能會(huì)影響實(shí)驗(yàn)結(jié)果，甚至對(duì)設(shè)備造成損害。不過，一旦發(fā)生操作失誤，也不必過于驚慌，以下為您詳細(xì)介紹相應(yīng)的補(bǔ)救辦法。...
MORE2025-07-17
SEM掃描電鏡不適合測(cè)磁性材料嗎？技術(shù)突破與解決方案全解析
在材料科學(xué)研究中，掃描電鏡憑借高分辨率、大景深等優(yōu)勢(shì)成為表面形貌分析的"利器"。然而，當(dāng)研究對(duì)象為磁性材料時(shí)，傳統(tǒng)認(rèn)知中"SEM掃描電鏡不適合測(cè)磁性材料"的觀念卻成為技術(shù)應(yīng)用的桎梏。本文將深入剖析磁性材料對(duì)掃描電鏡成像的干擾機(jī)制，并結(jié)合Z新技術(shù)進(jìn)展，揭示如何通過工藝優(yōu)化與設(shè)備升級(jí)實(shí)現(xiàn)磁性材料的高質(zhì)量觀測(cè)。...
MORE2025-07-16
SEM掃描電鏡在高分子材料領(lǐng)域中的應(yīng)用介紹
掃描電鏡作為材料表征的核心工具，憑借其納米級(jí)分辨率、立體成像能力和多模態(tài)分析功能，在高分子材料研發(fā)與質(zhì)量控制中扮演著不可替代的角色。一、表面形貌與結(jié)構(gòu)表征：從微觀到納米的**解析...
MORE2025-07-15
臺(tái)式SEM掃描電鏡的6個(gè)核心優(yōu)勢(shì)解析
臺(tái)式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其緊湊設(shè)計(jì)與功能集成，正在重塑材料分析、工業(yè)檢測(cè)及科研教育等領(lǐng)域的工作流程。本文從技術(shù)創(chuàng)新與應(yīng)用價(jià)值雙重視角，解析臺(tái)式SEM的六大核心優(yōu)勢(shì)。...
MORE2025-07-14
SEM掃描電鏡在微電子工業(yè)領(lǐng)域中的應(yīng)用介紹
一、晶圓制造與質(zhì)量控制 在半導(dǎo)體制造的核心環(huán)節(jié)——晶圓加工中，掃描電鏡通過電壓對(duì)比成像技術(shù)（VC-SEM）實(shí)現(xiàn)0.1微米J顆粒污染的**識(shí)別，結(jié)合自動(dòng)缺陷分類（ADC）軟件可在一小時(shí)內(nèi)完成全片缺陷定位。化學(xué)機(jī)械拋光（CMP）后，設(shè)備能檢測(cè)晶圓表面納米J平坦度，確保光刻工藝中光線的**聚焦。...
MORE2025-07-11
SEM掃描電鏡粉末樣品制備需要注意什么？從分散到成像的全流程控制
一、樣品前處理：奠定成像基礎(chǔ) 1.1 清潔與干燥 去污處理：金屬粉末需用丙酮超聲清洗（頻率40kHz，時(shí)間3-5分鐘）去除表面油污；有機(jī)粉末用乙醇或異丙醇浸泡后離心（3000rpm，5分鐘）去除殘留溶劑。...
MORE2025-07-10
SEM掃描電鏡的制樣要點(diǎn)有哪些？從基礎(chǔ)到進(jìn)階的全面解析
掃描電鏡作為材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的重要分析工具，其成像質(zhì)量高度依賴于樣品制備的規(guī)范性。本文將從樣品清潔、導(dǎo)電處理、固定方法等核心環(huán)節(jié)出發(fā)，系統(tǒng)梳理SEM掃描電鏡制樣的關(guān)鍵要點(diǎn)，助您獲得清晰穩(wěn)定的微觀圖像。...
MORE2025-07-09
SEM掃描電鏡不適合測(cè)那些材料：從樣品特性到成像陷阱的深度解析
SEM掃描電鏡不適合測(cè)那些材料：從樣品特性到成像陷阱的深度解析...
MORE2025-07-08
為什么不同的SEM掃描電鏡放大倍數(shù)不同？
掃描電鏡作為材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的關(guān)鍵分析工具，其放大倍數(shù)的差異性常引發(fā)用戶困惑。本文從技術(shù)原理、設(shè)備設(shè)計(jì)、操作模式及樣品特性四方面，系統(tǒng)解析SEM掃描電鏡放大倍數(shù)差異的根源。...
MORE2025-07-07
SEM掃描電鏡噴金的作用及其對(duì)形貌觀察的影響
掃描電鏡是材料科學(xué)中觀察樣品表面形貌的核心工具，但其成像質(zhì)量高度依賴樣品導(dǎo)電性。對(duì)于不導(dǎo)電或低導(dǎo)電性樣品（如陶瓷、生物組織、高分子材料），噴金處理成為不可或缺的制備步驟。本文結(jié)合Z新研究成果，系統(tǒng)解析噴金的作用機(jī)制、工藝參數(shù)優(yōu)化及對(duì)形貌觀察的影響。...
MORE2025-07-04
SEM掃描電鏡的圖像是真實(shí)顏色的嗎？揭秘微觀世界的"色彩密碼"
在納米科技飛速發(fā)展的今天，掃描電鏡已成為觀察微觀世界的"火眼金睛"。但當(dāng)科研人員展示出色彩斑斕的SEM掃描電鏡圖像時(shí)，公眾常常產(chǎn)生疑問：這些顏色是真實(shí)的嗎？本文將深入解析掃描電鏡成像的色彩之謎，揭示科學(xué)可視化背后的技術(shù)邏輯。...
MORE2025-07-03
SEM掃描電鏡總出現(xiàn)問題如何解決？——從故障診斷到系統(tǒng)化維護(hù)的全流程指南
在材料表征領(lǐng)域，掃描電鏡作為微觀形貌觀察的核心設(shè)備，其穩(wěn)定性直接影響科研數(shù)據(jù)的可靠性。然而，設(shè)備老化、操作不當(dāng)或環(huán)境波動(dòng)常導(dǎo)致成像異常。...
MORE
津公網(wǎng)安備12011002023086號(hào)津ICP備2021000527號(hào)-7
首頁 
產(chǎn)品 
案例 
聯(lián)系